Hãng sản xuất: Kipp & Zonen
Model: DustIQ
DustIQ giám sát mức suy giảm khả năng truyền ánh sáng do bụi, cát, phấn hoa hoặc các hạt vật chất khác bám trên bề mặt tấm pin quang điện (PV), bằng cách sử dụng công nghệ đo bám bụi quang học Optical Soiling Measurement (OSM) mới và tiên tiến của Kipp & Zonen. DustIQ không có bộ phận chuyển động và không cần ánh sáng mặt trời để vận hành. Thay vào đó, thiết bị sử dụng nguồn sáng bên trong để đo ánh sáng tán xạ và phản xạ, các đại lượng này tỷ lệ trực tiếp với mức độ tích tụ bám bụi trên bề mặt DustIQ.
Điểm khác biệt của DustIQ là không cần vệ sinh định kỳ hay bảo trì cơ khí, dễ dàng lắp đặt trực tiếp giữa các mô-đun PV có khung, phù hợp cho cả hệ thống cố định và hệ thống theo dõi (tracker), và chỉ cần vệ sinh khi các mô-đun PV được vệ sinh.
Việc vệ sinh mô-đun PV chỉ thực sự mang lại hiệu quả kinh tế khi tổn thất doanh thu và suy giảm hiệu suất do bám bụi vượt quá chi phí vận hành cho việc giám sát và làm sạch. DustIQ cung cấp dữ liệu đầu vào cho hệ thống quản lý nhà máy điện mặt trời, giúp bạn xác định chính xác thời điểm và khu vực cần vệ sinh. Với chi phí đầu tư hợp lý, DustIQ cho phép triển khai một mạng lưới thiết bị để giám sát sự phân bố và biến thiên mức độ bám bụi trên toàn bộ nhà máy điện mặt trời.
| Thông số | Mô tả / Giá trị |
|---|---|
| Dải suy hao truyền dẫn | Tỷ lệ phần trăm ánh sáng mặt trời bị che chắn hoặc tán xạ khiến không đến được các tế bào quang điện: 0 – 50% |
| Dải tỷ lệ bám bụi | 100 – 50% (SR = 100 – TL) |
| Độ chính xác đo suy hao truyền dẫn | ±0,1 của giá trị đo ±1% (sau khi hiệu chuẩn bụi tại địa phương) |
| Dải nhiệt độ vận hành | –20 đến +60 °C |
| Cảm biến nhiệt độ mặt sau mô-đun | –20 đến +100 °C, độ chính xác ±1 °C |
| Góc nghiêng trục X và Y | –180° đến 180°, độ chính xác ±1° |
| Giao thức truyền thông | Modbus® qua RS-485 hai dây |
| Nguồn cấp | 12 – 30 VDC, 70 – 200 mA, công suất < 2 W |
| Kích thước (không đóng gói) | 990 × 160 × 35 mm |
| Khối lượng (không đóng gói) | Thiết bị DustIQ: 4 kg; Bộ kẹp lắp đặt: 600 g |
